[1] | ATLAS pixel detector electronics and sensors (G. Aad, M. Ackers, F A. Alberti, M. Aleppo, G. Alimonti, J. Alonso, E C. Anderssen, A. Andreani, A. Andreazza, J-F. Arguin, K E. Arms, D. Barberis, M B. Barbero, M. Bazalova, R B. Beccherle, K H. Becks, P K. Behera, F. Bellina, J. Beringer, K. Bernardet, J B. Biesiada, L. Blanquart, J. Boek, G R. Boyd, P. Breugnon, P. Buchholz, B. Butler, M. Caccia, A C. Capsoni, C. Caso, D. Cauz, M. Cepeda, R. Cereseto, M. Cervetto, M L. Chu, M. Citterio, J C. Clemens, Y C. Coadou, M. Cobal, A. Coccaro, S. Coelli, S. Correard, M. Cristinziani, S. Cuneo, S. D'Auria, M. Dameri, G. Darbo, S. Dardin, B D. Lotto, U D. Sanctis, J B D. V. D. Regie, C D. Papa, P. Delpierre, B D. Girolamo, W. Dietsche, F. Djama, D. Dobos, M. Donega, J. Dopke, K. Einsweiler, A. Eyring, D. Fasching, L. Feligioni, D. Ferguson, W. Fernando, P. Fischer, M J. Fisher, T. Flick, G. Gagliardi, E. Galyaev, K K. Gan, M. Garcia-Sciveres, N. Garelli, G G. Gariano, G G. Gaycken, C. Gemme, P. Gerlach, M. Gilchriese, M P. Giordani, D. Giugni, K W. Glitza, C. Gössling, T. Golling, F. Goozen, I. Gorelov, G. Gorfine, C. Grah, H M. Gray, I M. Gregor, J. Grosse-Knetter, K. Grybel, P. Gutierrez, G D. Hallewell, N. Hartman, M. Havranek, B. Heinemann, T. Henß, M R. Hoeferkamp, D. Hoffmann, M. Holder, W. Honerbach, C. Horn, S. Hou, G S. Huang, F. Huegging, E W. Hughes, I. Ibragimov, I. Ilyashenko, M. Imhaeuser, J M. Izen, J. Jackson, D. Jana, R C. Jared, P. Jez, T. Johnson, J. Joseph, H. Kagan, M. Karagounis, R D. Kass, M. Keil, S. Kersten, P. Kind, J. Klaiber-Lodewigs, L. Klingbeil, R. Klingenberg, A. Korn, V V. Kostyukhin, I. Kostyukhina, O. Krasel, H. Krüger, K. Krueger, J. Kudlaty, T. Kuhl, O. Kvasnicka, K. Lantzsch, T. Lari, S L. Latorre, S C. Lee, T. Lenz, G. Lenzen, J. Lepidis, J. Levêque, M. Leyton, D L. Mateos, K F. Loureiro, D. Lüke, L. Luisa, J. Lys, R J. Madaras, P. Mättig, F M. Manca, E. Mandelli, M. Marcisovsky, Z. Marshall, G. Martinez, L. Masetti, M. Maß, M. Mathes, R. McKay, G. Meddeler, R. Meera-Lebbai, C. Meroni, J. Metcalfe, W T. Meyer, D W. Miller, W. Miller, S. Montesano, M M. Monti, P. Morettini, J M. Moss, T. Mouthuy, P. Nechaeva, W. Ockenfels, G A. Odino, M. Olcese, B. Osculati, F. Parodi, A. Pekedis, K. Perez, I. Peric, C. Pizzorno, J. Popule, R. Post, F. Ragusa, A M. Rahimi, B. Raith, S. Rajek, K. Reeves, I. Reisinger, J D. Richardson, E I. Rosenberg, L P. Rossi, I. Rottländer, A R. Rovani, A. Rozanov, O. Runolfsson, E R. Ruscino, A F. Saavedra, F S. Sabatini, M. Saleem, S. Sandvoss, B. Sanny, L. Santi, M I. Scherzer, C. Schiavi, A. Schreiner, J. Schultes, A. Schwartzman, R. Seibert, S C. Seidel, H. Severini, S. Shanava, P. Sicho, P. Skubic, A C. Smith, D S. Smith, J. Snow, T. Stahl, T. Stockmanns, S. Strandberg, M. Strauss, D. Ta, F. Tegenfeldt, P K. Teng, R. Ter-Antonyan, J. Thadome, T. Tic, L. Tomasek, M. Tomasek, F. Tomasi, K. Toms, C. Tran, J. Treis, N. Triplett, C. Troncon, L. Vacavant, S. Vahsen, J. Valenta, G. Vegni, F. Vernocchi, E. Vigeolas, J. Virzi, E. Viscione, V. Vrba, J. Walbersloh, W. Walkowiak, J. Weber, T F. Weber, J. Weingarten, C. Weldon, N. Wermes, U. Werthenbach, J S. Wirth, R. Witharm, B. Witt, M. Wittgen, J. Wuestenfeld, R. Wunstorf, J. Wyckoff, W-M. Yao, C. Young, R. Zaidan, M. Zdrazil, F. Zetti, J. Zhong, M. Ziolkowski, G. Zizka and M M. Zoeller), In Journal of Instrumentation, volume 3, 2008. |